直流法測(cè)量電池內(nèi)阻的發(fā)展趨勢(shì)

2022-04-29 14:35:35

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直流法測(cè)量電池內(nèi)阻的發(fā)展趨勢(shì)在電池內(nèi)阻技術(shù)應(yīng)用的初期, 直流法一般都采用30A電流或更大電流對(duì)電池進(jìn)行瞬間的放電來測(cè)得電池的內(nèi)阻, 更大的電流可以在電池上產(chǎn)生更大的電壓差△V=V2-V1(如下圖所示),更容易被A/D采集芯片測(cè)得。

隨著該技術(shù)的廣泛應(yīng)用,也逐漸暴露出一些問題：

1、存在安全隱患。在內(nèi)阻測(cè)試結(jié)束時(shí),設(shè)計(jì)上很難完全確保30A內(nèi)阻測(cè) 試電流每次都能被切斷，如果設(shè)備出現(xiàn)故障就會(huì)導(dǎo)致過熱而著火，嚴(yán)重時(shí)會(huì)使電池起火。

2、對(duì)電池有一定的損害。大電流長(zhǎng)期對(duì)電池進(jìn)行沖擊，每次對(duì)電池都是一個(gè)放電充電的過程，會(huì)影響電池的使用壽命。

3、設(shè)備安裝不方便。采用的放電線較粗，放電設(shè)備體積較大，不方便安裝。

為了解決上面的問題，必須減小放電電流。隨著A/D采集芯片及抗干擾技術(shù)的不斷發(fā)展，可以精確的測(cè)量出電池上小至0.1mV的電壓變化，與之前的技術(shù)相比，其電壓分辨率提高了80%以上。在同等內(nèi)阻測(cè)量精度下，內(nèi)阻放電電流可以減小80%，所以采用小電流測(cè)內(nèi)阻時(shí)電流一般為5A左右。